PCB頂針、ICT測試探針、BGA探針、高頻探針、大電流探針的統(tǒng)一的叫法都叫測試探針，無論什么測試探針都會有自己的測試壽命，測試探針的圖冊上一般都有自己的壽命，影響測試探針壽命的最大因素還取決于測試探針的彈簧。

那么影響測試探針壽命的因素都有哪些呢？這里華榮華為大家簡要介紹一下，影響測試探針壽命的因素。

一、測試探針的測試環(huán)境
　　先說常規(guī)ICT/FCT探針，這類測試探針通常測試壽命在30萬次左右，但是壽命往往都是由測試環(huán)境決定的，如果測試環(huán)境比較差，各種雜質(zhì)進入測試探針內(nèi)管，就會造成探針彈簧損壞，這樣就必須要更換測試探針。這種是小部分更換，還有一種是定期對探針進行更換，當(dāng)使用到一定的時間后，探針就必須要更換。如果是高頻探針的話，這個比較特殊，高頻探針主要在于高頻針的內(nèi)芯針，所以高頻探針更換一般都是將內(nèi)芯針進行更換，這樣可大大降低成本。

二、測試探針的維護和保養(yǎng)
　　正常情況下，越細的探針相對來說就越短，所以正常探針的壽命都是接近于廠商給出的理論壽命。對治具維護保養(yǎng)做的好，以及治具測試的板子的清潔度高，按照探針規(guī)定的行程進行測試，這樣探針的更換頻次就低。